集成了五项专利技术：

◇ 用于原子荧光光谱仪的顺序注射进样装置
专利号：ZL 01 2 74858.7

◇ 去除水蒸气装置
专利号：ZL02 2 85169.0

◇ 化学气相发生气液分离装置
专利号：ZL 2005 2 0001620.3

◇ 用于氢化物发生法的在线消除还原剂气泡装置
专利号：ZL 2005 2 0109988.1

◇ 氢化物发生原子荧光测量尾气中有害元素的捕集阱装置
专利号：ZL 2005 2 0110557.7

仪器主要特点：
◇ 用于样品中As、Sb、Bi、Hg、Se、Te、Sn、Ge、Pb、Zn、Cd、Au元素的痕量分析；
◇ 采用80或160位极坐标式自动进样器；
◇ 光源：采用集束式脉冲控制方式；

◇ 具有非隐藏外置式氩氢火焰观察窗或全密闭观察窗两种方式；
◇ 光学系统：短焦距透镜聚光，无色散全密闭避光调光系统；
◇ 进样系统：全自动内置式顺序注射泵进样系统；
◇ 原子化器：低温自动点燃氩-氢火焰，屏蔽式石英原子化器；
◇ 具备化学气相发生气液分离装置；
◇ 具备氢化物发生原子荧光测量尾气中有害元素的捕集阱装置；
◇ 开机自检，气路自动控制、自动保护、自动报警；
◇ 自动在线稀释、清洗、单标准自动配置标准曲线；
◇ 标准的RS—232/485通讯，功能强大的中英文软件操作系统，可实现自动系统诊断、自动样品测量、标准曲线测量，多种报告格式，并备存专家帮助系统。